Search Result of "Atomic force microscopy"

About 57 results
Img
Img
Img
Img

ผลงานตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ

Atomic force microscopy studies on cation-induced network formation of gellan

ผู้แต่ง:ImgDr.Rungnaphar Pongsawatmanit, Associate Professor,

วารสาร:

Img Img Img

Img
Img

รางวัล (ประกาศเกียรติคุณ)

Grand Prize Winner for Best Art Photo Atomic Force Microscopy- "Cold Mountain Peaks in Snow" (2023)

นักวิจัย:Imgนางสาวปิยนันท์ ถนอมชาติ

Doner:The 40th International Conference of the Microscopy Society of Thailand

Img

ผลงานตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ

TEMPO-Mediated Oxidation of Hemp Bast Holocellulose to Prepare Cellulose Nanofibrils Dispersed in Water

ผู้แต่ง:ImgDr.Buapan Puangsin, Associate Professor, ImgFujisawa, S., ImgKuramae, R., ImgSaito, T., ImgIsogai, A.,

วารสาร:

Img Img

Img
Img

ที่มา:APPLIED MICROBIOLOGY AND BIOTECHNOLOGY

หัวเรื่อง:Heterologous expression of polyhydroxyalkanoate depolymerase from Thermobifida sp. in Pichia pastoris and catalytic analysis by surface plasmon resonance

Img

ผลงานตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ

Single-phase mixed gels of xyloglucan and gellan

ผู้แต่ง:ImgDr.Rungnaphar Pongsawatmanit, Associate Professor,

วารสาร:

Img Img Img

Img
Img
Img
Img
Img

ผลงานตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ

Role of air-water interfaces in colloid transport in porous media: A review

ผู้แต่ง:ImgMarkus Flury, ImgDr.SURACHET ARAMRAK, Associate Professor,

วารสาร:

Img Img

Img
Img

ผลงานตีพิมพ์ในวารสารวิชาการ

Homogenous isolation of individualized bacterial nanofibrillated cellulose by high pressure homogenization

ผู้แต่ง:ImgKawee, N., ImgLam, N.T., ImgDr.Prakit Sukyai, Associate Professor,

วารสาร:

Img Img

Img
Img

ที่มา:วิทยาสารเกษตรศาสตร์ สาขา วิทยาศาสตร์

หัวเรื่อง:ไม่มีชื่อไทย (ชื่ออังกฤษ : Effect of Films Thickness on the Properties of ITO Thin Films Prepared by Electron Beam Evaporation)

ผู้เขียน:ImgArtorn Pokaipisit, ImgMati Horprathum, Imgพิเชษฐ ลิ้มสุวรรณ

สื่อสิ่งพิมพ์:pdf

Abstract

Indium tin oxide (ITO) thin films were prepared on glass slide substrates at various thicknesses by electron beam evaporation (e-beam) from a tablet of In2O3 and SnO2 (9:1). The ITO thin films were fabricated at substrate temperatures of 150 ?C, deposition rate of 2 ?/s and oxygen flow rate of 12 sccm. The structure, surface morphology, electrical and optical properties of ITO thin films were investigated. The structure and surface morphology of films were monitored by using X–ray diffraction (XRD) and atomic force microscopy (AFM), respectively. The optical transmittance and sheet resistance of ITO thin films were measured by spectrophotometer and four-point probe. It was found that transmittance and sheet resistance of ITO thin films on glass slide decreased as film thickness increased from 200 nm to 700 nm. The transmittance spectra in the visible region (400-700 nm) and the sheet resistance decreased from 76.63% to 57.89% and from 16 ?/sq. to 4 ?/sq., respectively, with increasing the films thickness.

Article Info
Agriculture and Natural Resources -- formerly Kasetsart Journal (Natural Science), Volume 041, Issue 5, Jan 07 - Dec 07, Page 255 - 261 |  PDF |  Page 

Img
123